影响镀层测厚仪丈量精度的几大要素

1.基体金属电性质

基体金属的电导率对丈量有影响，而基体金属的电导率与其资料成分及热处理办法有关。运用与试件基体金属具有相同性质的规范片对仪器进行校准。

2.基体金属厚度

每一种仪器都有一个基体金属的临界厚度。大于这个厚度，丈量就不受基体金属厚度的影响

3.边缘效应

涂层测厚仪对试件外表形状的陡变灵敏。

4.曲率

试件的曲率对丈量有影响。这种影响总是跟着曲率半径的削减明显地增大。

5.试件的变形

测头会使软覆盖层试件变形，因而在这些试件上不能测出牢靠的数据。

6.外表粗糙度

基体金属和覆盖层的外表粗糙程度对丈量有影响。粗糙程度增大，影响增大。粗糙外表会引起系统误差和偶然误差，每次丈量时，在不同方位上应添加丈量的次数，以战胜这种偶然误差。假如基体金属粗糙，还有必要在未涂覆的粗糙度相类似的基体金属试件上取几个方位校正仪器的零点；或用对基体金属没有腐蚀的溶液溶解除掉覆盖层后，再校正仪器的零点。

7.磁场

周围各种电气设备所发生的强磁场，会严重地搅扰磁性法测厚作业。

8.附着物质

测厚仪对那些阻碍测头与覆盖层外表严密触摸的附着物质灵敏，因而，有必要铲除附着物质，以确保仪器测头和被测试件外表直触摸摸。

9.探头压力

测头置于试件上所施加的压力大小会影响丈量的读数，因而，要坚持压力稳定。

10.探头的取向

测头的放置方法对丈量有影响。在丈量中，应当使测头与试样外表坚持笔直。