尽管软件系统和业务发展迅速，但在我国的研发组织中却存在着许多问题，制约着软件系统的快速发展。毫无疑问，在整个软件测试系统迅速发展的过程中，所面临的最大挑战是如何尽可能地减少缺陷的数量。由于过多的缺陷将导致校正和返工的时间成本增加，从而导致研发成本的增加。许多缺陷是由过程引起，而非人为原因所致，因此如何完善工艺，以防止缺陷的发生就显得尤为重要。缺陷预防(Defect Prevention)正是在这一章中讨论的。以下是第一部分“软件缺陷的引入和去除矩阵”的讲解。

　　在分析缺陷控制能力时，必须对缺陷的引入情况进行分析，提出了缺陷的“注入阶段”和“发阶段”作为分析缺陷的两个重要指标。

　　上述章节介绍了缺陷引入的阶段，其主要内容包括：缺陷注入阶段、设计阶段和编码阶段。

　　进行缺陷控制分析时，除分析缺陷注入阶段外，还需从“注入阶段”和“发现阶段”两个维度对缺陷进行分析，这就是通常所说的“注入阶段”和“发现期”矩阵。

　　表9-10中有“注入阶段”和“发现期”矩阵。

　　表9-10缺陷注入阶段和发现阶段矩阵

　　在这一矩阵中，横向指缺陷引入的几个阶段，纵向指研究开发的几个阶段。可以从此表中对以下几个方面的内容进行分析：

　　(1)确定每一阶段注入缺陷的比例

　　一般情况下，缺陷的引入分为三个阶段：需求、设计和编码三个阶段，该表可以清楚地分析每一阶段引入的缺陷数占全部缺陷的比例。总共发现298个缺陷，如表中所示，总共22个缺陷，占总缺陷的7.4%;在设计阶段共发现97个缺陷，占总缺陷的32.6%;编码总共发现179个缺陷，占总缺陷的60%。

　　对该数据进行分析，可以发现各阶段缺陷的比例是否合理，一般需求阶段引入的缺陷占总缺陷的22%左右，设计阶段引入的缺陷占33%，编码阶段引入的缺陷占55%左右。

　　与上述数据进行比较，发现需求引入的缺陷少于22%，表明缺陷的修复成本将会更高。

　　由于需求阶段的大多数缺陷是在需求审查和设计阶段才发现的，因此如果在需求阶段发现更多的问题，就可以减少编码阶段引入的缺陷数量，从而使缺陷修复的成本明显降低。

　　因此，对每一阶段引入的缺陷进行分析，可以确定各阶段引入缺陷的比例是否合理，是否与历史数据相矛盾。

　　(2)确定每个阶段的缺陷去除率

　　以下是缺陷迁移率的公式：

　　瑕疵清除率=(在这个阶段中发现的缺陷总数/目前阶段注入的缺陷总数)×100%确定的缺陷转移率主要用于分析每一阶段消除缺陷的情况，在此显然是希望需求和设计阶段能清除的缺陷越多越好，否则大部分缺陷都可能留在系统测试阶段，这样不仅增加了修复缺陷的成本，也增加了系统发布的风险。这样，为了在前期尽可能地发现更多的缺陷，可以对需求分析得更透彻一些，对设计的方案分析得更全面一些，同时也能更深入地进行单元测试和集成测试。

　　(3)对整个研究和发展进程中哪些方面的改进

　　对于缺陷引入和消除矩阵的引入，除了可对上述两维内容进行分析外，还可以分析是否在整个研发过程中有需要改进的地方。

　　对缺陷的研究，主要是对整个研发阶段发现缺陷的分布进行分析，从而确定每一阶段的研发工作是否到位，从而确定缺陷的处理阶段。

　　并且缺陷转移阶段的分配能够决定我们每个测试阶段和研发阶段的评审是否正确，尤其是在前期阶段。假如预先的需求、设计阶段没有完成，那么遗留的问题就会在系统测试阶段得到体现。

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